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    3AP-CJ-150C高溫冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備

    高溫冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C408L冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    408L冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150Csop封裝高低溫沖擊試驗(yàn)箱

    sop封裝高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

    冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C超快速冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備

    超快速冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

    超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)器

    高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)器適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱驟變實(shí)驗(yàn)箱

    冷熱驟變實(shí)驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C杭州冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備廠家

    杭州冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備廠家適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備品牌廠家

    冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備品牌廠家適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備廠家

    冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備廠家適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗(yàn)儀器廠家

    冷熱沖擊試驗(yàn)儀器廠家適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A深圳實(shí)驗(yàn)室高低溫沖擊箱

    深圳實(shí)驗(yàn)室高低溫沖擊箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家直銷

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家直銷適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A北京冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)儀

    北京冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)儀適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A半導(dǎo)體冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)儀

    半導(dǎo)體冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)儀適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A半導(dǎo)體冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)箱

    半導(dǎo)體冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C輪胎冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)箱

    輪胎冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。

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