實(shí)驗(yàn)室設(shè)備生產(chǎn)廠家 高溫老化房是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車(chē)用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等，通過(guò)此測(cè)試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶(hù)迅速找出問(wèn)題、解決問(wèn)題提供有效手段，充分提高客戶(hù)生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)

實(shí)驗(yàn)室設(shè)備生產(chǎn)廠家 高溫老化房技術(shù)參數(shù)：

1、內(nèi)容積:6M3、8M3、10M3、12M3、15M3、18M3、20M3、30M3、50M3、(除了這些容積，更大或者更小的均可來(lái)電定制）

2、內(nèi)室尺寸與外型尺寸：以客戶(hù)的測(cè)試件所需尺寸或場(chǎng)地等需求定制合理的內(nèi)外尺寸，建議雙方電談或者面談了解清楚實(shí)際需求再確定具體所需尺寸，能有效節(jié)約成本及滿(mǎn)足實(shí)際需要。

3、溫度范圍：RT～85 ℃或更高請(qǐng)致電說(shuō)明。

4、（單/雙)開(kāi)門(mén)選擇，如雙：W（800+800）mm×H1900mmW；（ 可依客戶(hù)要求選擇或定制）

5、滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb、GJB150.3-1986   高溫試驗(yàn)、GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法、GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)。

6、工作噪音：A聲級(jí)≤70dB(A) (在環(huán)溫25℃，回聲少的隔音室內(nèi)測(cè)得；采用A計(jì)權(quán)，測(cè)試8個(gè)點(diǎn)的平均值；各測(cè)試點(diǎn)水平離噪音源1米、高度離地面1米)

7、溫度波動(dòng)：溫度：≤±0.5℃  （指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差）

8、溫度均勻度：溫度：≤2.0℃（均勻度為每次空載測(cè)試中實(shí)測(cè)高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值）

9、溫度升溫時(shí)間：約40min

10、電源：AC380V，三相四線(xiàn)＋保護(hù)地線(xiàn)。