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能量色散型和波長色散型的特點

能量色散和波長色散檢測方法各有其特點，必須根據(jù)應用適當選擇。

1.能量色散型能量
色散型不需要光譜學，半導體探測器可以直接分析熒光X射線的波長，因此可以做得更小。此外，由于無需光譜分析即可同時進行多種元素分析，因此可在短時間內(nèi)完成測量。由于無論樣品的形狀和凹凸如何都可以進行測量，因此有時與電子顯微鏡結(jié)合使用。

另一方面，由于所得到的光譜的峰有時重疊，所以存在分辨率容易降低、難以檢測測定對象物中微量含有的元素的缺點。

2. 波長色散
型 在波長色散型中，熒光X射線被分析晶體分離并由檢測器測量。由于光譜是按波長劃分的，因此很容易分離相鄰的峰，并且往往具有高靈敏度和高分辨率。

另一方面，由于其復雜的光譜系統(tǒng)，該設(shè)備本身往往較大且昂貴。另外，由于在改變衍射角的同時進行測量，因此測量時間比能量色散型長，并且樣品表面必須光滑。